大平臺芯片檢測顯微鏡DYJ-850

大平臺金相顯微鏡配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置。大平臺金相顯微鏡除了一般金相顯微鏡作用外，大平臺金相顯微鏡還適宜于大物體表面上的特定范圍內微小目標的觀察研究和分析。

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一、太平臺金相顯微鏡用途：

大平臺芯片檢測顯微鏡DYJ-850適用于對不透明物體的顯微觀察。照明采用柯拉照明系統，配置了優良成像質量的長工作距平場消色差物鏡與大視野目鏡，可提供卓越的光學成像性能。產品機體采用“T”型防振結構設計，適用于大試樣的顯微觀察。寬大的可移動載物平臺可慢速或快速移動被觀察試樣。

大平臺檢測顯微鏡為IT行業大面積質量檢測而設計開發制造的，可用于檢測集成電路，晶片等。主體為正置式，三目鏡筒，比其他列顯微鏡更適合于檢測集成電路，晶片的觀察?？捎糜陔娮?、機械、化工、科研、院校等部門，還可以用作金相技術檢驗、失效分析等。

大平臺芯片檢測微鏡系統將傳統的光學顯微鏡與電腦計算機(數碼相機)通過專業的工業相機連接，可以在目鏡筒上進行直接觀察，還能在電腦計算機(數碼相機)等顯示設備實時進行觀察，可以方便的將觀察畫面及動態視頻進行保存和打印。

二、性能特點：

▲ 配置使用大視野目鏡，物鏡采用長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。

▲ 載物臺可大移動范圍，可方便掌握控制移動的快慢速。

▲ 同軸的粗微動調焦機構，粗動以及松緊都可調節，具有鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。

▲ 6V 20W鹵素燈,亮度可調。

▲ 三目鏡筒設計,正常顯微觀察與偏光觀察可自由的切換，可進行100%透光攝影。

三、參數配置：

儀器配置
型號	DYJ-850
目鏡	大視野 WF10X(視場數Φ18mm)
長距平場消色差物鏡	長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL 5X/0.12
	長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L10X/0.25
	長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L20X/0.40
	長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L40X/0.60
	長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L80X/0.80
載物臺	三層機械移動式，尺寸: 250mmX230mm,移動范圍: 154mmX154mm
轉換器	五孔(內向式滾珠內定位)
落射照明系統	6V20W鹵素燈，亮度可調
	內置視場光欄、孔徑光欄、起偏振片
	配磨砂玻璃、藍、黃、綠濾色片
目鏡筒	三目鏡,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換)
調焦機構	粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm, 粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置
防霉	特有防霉系統
選配件	物鏡	長距平場消色差物鏡 PL L 50X/0.70
		長距平場消色差物鏡 PL L 60X/0.75 (彈簧)
		長距平場消色差物鏡 PL L 100X/0.85 (彈簧)
	目鏡	大視野 WF16X(Φ11mm)
		分劃 10X(Φ18mm) 格值0.1mm/格
	軟件	金相組織圖譜評級分析專用軟件
		金相圖像測量分析軟件
電腦型	1.金相顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器(CMOS) 4.計算機（選購）
數碼型	1.金相顯微鏡 2.適配鏡 3.數碼相機（選購）